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Mn在Si(100)表面化学吸附电子结构的研究
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作者 危书义 马丽 +1 位作者 戴现起 汪建广 《河南师范大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2002年第4期47-50,共4页
用TB—LMTO方法研究单层Mn原子在理想的Si(10 0 )表面的化学吸附 .计算了Mn原子在不同位置的吸附能 .结果表明 ,Mn原子在C位 (四重位 )吸附最稳定 ,在Mn/Si(10 0 )界面存在Mn、Si混合层 .
关键词 MN si(100)表面 化学吸附 电子结构 层投影态密度 电子转移 TB-LMTO方法
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氢原子与H-Si(100)表面作用提取的氢分子角分布研究
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作者 阳生红 CHATELET Marc 《中山大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2007年第6期30-33,共4页
利用可旋转四极质谱仪对氢原子束与氢化Si(100)表面作用中氢提取反应产生的氢分子角分布进行了系统的分析。发现氢原子束与氢化Si(100)表面作用中,从氢化Si(100)表面脱附的氢分子具有较宽的角分布,并可以用函数cosnθf(其中n<1)拟合... 利用可旋转四极质谱仪对氢原子束与氢化Si(100)表面作用中氢提取反应产生的氢分子角分布进行了系统的分析。发现氢原子束与氢化Si(100)表面作用中,从氢化Si(100)表面脱附的氢分子具有较宽的角分布,并可以用函数cosnθf(其中n<1)拟合氢分子角分布。脱附的氢分子角分布与Si(100)表面温度和表面重构模型无关。根据硅表面重构机制,用非活性脱氢模型对实验结果进行了合理的解释。 展开更多
关键词 四极质谱仪 氢化si(100)表面 脱附 氢分子角分布
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乙炔和乙烯分子在Si(100)表面吸附的几何和电子结构的密度泛函研究
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作者 秦改萍 蔡亚萍 +3 位作者 邢伯蕾 李奕 章永凡 李俊 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2007年第14期1305-1312,共8页
采用基于第一性原理的密度泛函理论和平板模型对Si(100)表面吸附乙炔和乙烯分子的构型稳定性以及电子结构进行系统研究.结果表明:无论是吸附乙炔还是乙烯分子,当覆盖度为0.5ML时,最为稳定的吸附方式为dimerized模型;当覆盖度增大到1.0ML... 采用基于第一性原理的密度泛函理论和平板模型对Si(100)表面吸附乙炔和乙烯分子的构型稳定性以及电子结构进行系统研究.结果表明:无论是吸附乙炔还是乙烯分子,当覆盖度为0.5ML时,最为稳定的吸附方式为dimerized模型;当覆盖度增大到1.0ML时,end-bridge模型为最稳定的吸附方式.通过对各吸附模型的能带结构分析可知,体系的带隙变化可以通过考察表层Si—Si二聚体中Si原子的配位环境来确定.对于相同的吸附模型,无论吸附分子是乙炔还是乙烯,都具有非常相近的带隙.吸附构型以及吸附分子的覆盖度对最小带隙及其来源有较大影响.此外,研究结果还表明,杂化密度泛函方法更适合于描述Si(100)表面的电子结构,尤其是对end-bridge吸附模型. 展开更多
关键词 密度泛函理论 si(100)表面 乙烯 乙炔 能带结构
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Molecular dynamic simulations of surface morphology and pulsed laser deposition growth of lithium niobate thin films on silicon substrate
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作者 刘悦 朱浩楠 +2 位作者 裴子栋 孔勇发 许京军 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第5期464-467,共4页
The molecular dynamic simulation of lithium niobate thin films deposited on silicon substrate is carried out by using the dissipative particle dynamics method. The simulation results show that the Si(111) surface is m... The molecular dynamic simulation of lithium niobate thin films deposited on silicon substrate is carried out by using the dissipative particle dynamics method. The simulation results show that the Si(111) surface is more suitable for the growth of smooth Li Nb O3 thin films compared to the Si(100) surface, and the optimal deposition temperature is around873 K, which is consistent with the atomic force microscope results. In addition, the calculation molecular number is increased to take the electron spins and other molecular details into account. 展开更多
关键词 分子动态模拟 铌酸锂薄膜 脉冲激光沉积 硅衬底 表面形貌 si(100)表面 LiNbO3薄膜 si(111)
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Sr/Si(100)表面TiSi_2纳米岛的扫描隧道显微镜研究 被引量:1
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作者 杨景景 杜文汉 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2011年第3期598-603,共6页
为了解半导体衬底与氧化物之间存在的相互作用,以及量子尺寸效应对不同再构体的影响,制备了1—2个原子层厚的TiSi2/Si(100)纳米岛,并使用扫描隧道显微镜(STM)表征手段详细地研究了TiSi2/Si(100)纳米岛的电子和几何特性.结果发现:这些纳... 为了解半导体衬底与氧化物之间存在的相互作用,以及量子尺寸效应对不同再构体的影响,制备了1—2个原子层厚的TiSi2/Si(100)纳米岛,并使用扫描隧道显微镜(STM)表征手段详细地研究了TiSi2/Si(100)纳米岛的电子和几何特性.结果发现:这些纳米岛表面显示出明显的金属性;其空态STM图像具有典型的偏压依赖性:在高偏压下STM图像由三聚物形成的单胞构成,并在低偏压下STM图像显示为密堆积的图案,这些不同的图案反映出不同能量位的态密度有明显差异. 展开更多
关键词 Tisi2纳米岛 Sr/si(100)表面 扫描隧道显微镜
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饱和吸附H原子的Si(100)表面的光学二次谐波研究
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作者 蒋红兵 刘杨华 +2 位作者 陆兴泽 王文澄 郑家骠 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第3期377-380,共4页
测量了Si(100)(2×1)-H表面和Si(100)(3×1)-H表面的反射二次谐波强度随温度的变化关系,并与清洁的Si(100)(2×1)表面进行了比较。Si(100)(2×1)表面和Si(100... 测量了Si(100)(2×1)-H表面和Si(100)(3×1)-H表面的反射二次谐波强度随温度的变化关系,并与清洁的Si(100)(2×1)表面进行了比较。Si(100)(2×1)表面和Si(100)(3×1)-H表面的二次谐波强度随温度的上升而单调地减小,Si(100)(2×1)-H表面二次谐波强度随温度的变化不是单调的,约在470K时信号最大。可以根据二次谐波信号的强度及其随温度的变化关系来确定样品温度和表面结构。 展开更多
关键词 光学二次谐波 si(100)表面 H原子 饱和吸附
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(NH_4)_2S treatment of the Si (100) surface and its effects on Al/Si Schottky barrier heights
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作者 胡爱斌 王文武 徐秋霞 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期56-59,共4页
The effect of Si (100) surface S passivation was investigated. A thick film with a high roughness value was formed on the Si surface treated by (NH4)2S solution, which was attributed to physical adsorption of S atoms.... The effect of Si (100) surface S passivation was investigated. A thick film with a high roughness value was formed on the Si surface treated by (NH4)2S solution, which was attributed to physical adsorption of S atoms. SEM and XPS analyses reveal that Si surface atoms were chemically bonded with S atoms after Si surface treatment in NH4OH and (NH4)2S mixing solution. This induces a more ideal value for the Schottky barrier height compared with a diode treated only by HF solution, indicating that surface states originating from dangling bonds are passivated with S atoms. 展开更多
关键词 si(100)表面 势垒高度 肖特基 治疗
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