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Tb^(3+)激活硅酸盐玻璃的发光性能及其X射线转换屏应用研究 被引量:19
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作者 祖成奎 陈洁 《硅酸盐学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第3期283-286,298,共5页
通过成分设计、试样制备得到了荧光性能良好的Tb3+ 激活硅酸盐发光玻璃 ,利用荧光光度计测试了玻璃的激发光谱和发射光谱 ,在能量为 9MeV的X射线电荷耦合器件 (charge coupleddevice,CCD)摄像系统中 ,比较了Tb3+ 激活硅酸盐玻璃转换屏与... 通过成分设计、试样制备得到了荧光性能良好的Tb3+ 激活硅酸盐发光玻璃 ,利用荧光光度计测试了玻璃的激发光谱和发射光谱 ,在能量为 9MeV的X射线电荷耦合器件 (charge coupleddevice,CCD)摄像系统中 ,比较了Tb3+ 激活硅酸盐玻璃转换屏与Gd2 O2 S∶Tb多晶转换屏的发光性能。结果表明 :在Tb3+ 激活硅酸盐发光玻璃的发射波长中 ,5 43nm处的绿光发射最强 ,并且在X射线和紫外线的激发下 ,发射峰有不同程度的分裂。当Tb3+ 浓度增加时 ,由于能量在Tb3+ 离子间发生了无辐射共振转移 ,发光玻璃的蓝色荧光减弱 ,绿色荧光增强。发光玻璃在X射线CCD摄像系统中的使用效果良好 ,成像质量较高 ,可望作为X射线转换屏在CCD摄像系统中获得应用。 展开更多
关键词 铽离子 激活 硅酸盐玻璃 发光性能 x射线转换屏
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大面积高分辨率CsI(Tl)X射线转换屏实验研究 被引量:1
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作者 廖华 胡昕 +3 位作者 杨勤劳 王光超 王云程 阔晓梅 《深圳大学学报(理工版)》 EI CAS 北大核心 2014年第2期174-178,共5页
通过对X射线转换屏制备过程中,Tl+掺杂浓度、基底刻蚀、晶柱生长过程和防潮解等方面的大量实验研究,得到最佳掺杂浓度(摩尔比为0.055%)及合适的基底刻蚀深度(5μm)与工艺,实现对晶柱生长过程中表面形貌、温度、压力和转速的控制,研制出... 通过对X射线转换屏制备过程中,Tl+掺杂浓度、基底刻蚀、晶柱生长过程和防潮解等方面的大量实验研究,得到最佳掺杂浓度(摩尔比为0.055%)及合适的基底刻蚀深度(5μm)与工艺,实现对晶柱生长过程中表面形貌、温度、压力和转速的控制,研制出有效直径为100 mm、空间分辨率约为12lp/mm(厚度为300μm)的CsI(Tl)X射线转换屏. 展开更多
关键词 数字成像 掺杂浓度 基底刻蚀 晶柱生长 空间分辨 x射线转换屏
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基于ZnO:In纳米棒阵列的X射线闪烁转换屏制备与性能研究 被引量:1
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作者 李乾利 胡亚华 +5 位作者 马逸凡 孙志祥 王敏 刘小林 赵景泰 张志军 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2020年第10期89-97,共9页
为了满足高能物理和核物理领域在探究一些超快物理事件时,对兼顾高时间和高空间分辨的X射线闪烁转换屏的迫切需求,本文利用磁控溅射和水热反应法制备了ZnO:In纳米棒阵列X射线闪烁转换屏,并对其进行氢气氛下的等离子处理优化其闪烁发光性... 为了满足高能物理和核物理领域在探究一些超快物理事件时,对兼顾高时间和高空间分辨的X射线闪烁转换屏的迫切需求,本文利用磁控溅射和水热反应法制备了ZnO:In纳米棒阵列X射线闪烁转换屏,并对其进行氢气氛下的等离子处理优化其闪烁发光性能.X射线激发发射谱显示ZnO:In纳米棒阵列具有395 nm的紫外发光和450-750 nm的可见发光两个发光峰,同时表明氢气氛等离子体处理可显著增强ZnO:In纳米棒阵列的紫外发光,抑制其可见发光.发光衰减时间测量表明,ZnO:In纳米棒阵列紫外发光衰减时间在亚纳秒级,其可见发光衰减时间在纳秒级,两者均可满足高时间分辨的X射线探测需求.在上海同步辐射光源的X射线空间分辨率测试表明,在能量为20 keV的X射线光束辐照下,厚度为12μm的ZnO:In纳米棒阵列作为X射线闪烁转换屏可达到1.5μm的系统空间分辨率.本研究表明利用ZnO:In纳米棒阵列作为X射线闪烁转换屏是实现兼顾高时间和高空间分辨的X射线探测与成像的一种可行方案. 展开更多
关键词 x射线闪烁转换 ZnO:In纳米棒阵列 超快衰减时间 高空间分辨率
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CsI:Na(CsI:Tl)荧光透过率和对X射线的转换因子 被引量:5
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作者 徐向晏 牛憨笨 《计算物理》 CSCD 北大核心 2002年第3期195-202,共8页
在建立模型的基础上 ,较为全面地分析了CsI:Na(CsI:Tl)X射线转换屏的荧光透过率及对X射线的转换因子 ,明确了转换因子与X光子能量、转换屏厚度、衬底反射率、荧光吸收系数之间的函数关系 .计算表明 ,荧光透过率 (及转换因子 )与衬底反... 在建立模型的基础上 ,较为全面地分析了CsI:Na(CsI:Tl)X射线转换屏的荧光透过率及对X射线的转换因子 ,明确了转换因子与X光子能量、转换屏厚度、衬底反射率、荧光吸收系数之间的函数关系 .计算表明 ,荧光透过率 (及转换因子 )与衬底反射率和 1 (σL)值有较强的关系 ,为有较高的荧光透过率 ,实际制作的CsI:Na转换屏的 1 (σL)值应在 10以上 ,最好能达到 30~ 40 .在相同情况下 ,反射方式的转换因子高于透射方式 .用增加厚度来提高转换因子时应考虑荧光透过率降低的负面影响 .可选择适当的CsI:Na(CsI:Tl) 展开更多
关键词 CsI:Na CsI:Tl x射线成像 转换因子 荧光透过率 x射线转换屏 碘化铯 钠掺杂 铊掺杂 x射线影像增强器
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电化学刻蚀多孔硅阵列的形貌研究 被引量:1
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作者 陈婷婷 顾牡 +2 位作者 于怀娜 刘小林 黄世明 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2015年第11期48-52,共5页
采用电化学刻蚀法在P型硅中制备多孔阵列结构。通过实验研究和理论分析,分别讨论硅片电阻率、电流密度、电解液组分对多孔硅形貌的影响。结果表明,在P型硅中电阻率决定了孔洞能否形成;改变电流密度,可以有效调控孔径大小;在电阻率3... 采用电化学刻蚀法在P型硅中制备多孔阵列结构。通过实验研究和理论分析,分别讨论硅片电阻率、电流密度、电解液组分对多孔硅形貌的影响。结果表明,在P型硅中电阻率决定了孔洞能否形成;改变电流密度,可以有效调控孔径大小;在电阻率30~50Ω&#183;cm、电流密度20×10^–3A/cm^2的条件下,可以得到最优化多孔硅结构。通过模板引导法制备了高度有序的多孔硅阵列,孔径2.5μm,周期4μm。在电解液中添加十六烷基三甲基氯化铵(CTAC),反应生成的气泡更容易逸出,有利于改善多孔硅阵列形貌。研究成果为基于硅孔洞填充的像素化X射线闪烁转换屏的研制提供了必要的基础。 展开更多
关键词 电化学刻蚀 多孔硅阵列 形貌 孔径调控 模板引导 x射线转换屏
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