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心脏电子植入装置植入后并发心房颤动的危险因素分析及预测价值 被引量：1
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作者 优里吐孜·阿地里 迪力阿热·买买提江 +1 位作者 方舒 姚娟 《临床心血管病杂志》 CAS 北大核心 2023年第8期601-605,共5页
目的:探究心脏电子植入装置(CIEDs)植入后发生心房颤动(AF)患者的危险因素及预测价值,为早期发现高风险人群、及时采取干预措施提供科学依据。方法:回顾性分析我院住院植入CIEDs患者的临床资料,根据术后起搏器程控检查将未发生心房高频... 目的:探究心脏电子植入装置(CIEDs)植入后发生心房颤动(AF)患者的危险因素及预测价值,为早期发现高风险人群、及时采取干预措施提供科学依据。方法:回顾性分析我院住院植入CIEDs患者的临床资料,根据术后起搏器程控检查将未发生心房高频事件(AHREs)患者作为对照组(86例),发生AHREs进一步使用穿戴式12导联心电设备检测到AF患者作为病例组(34例),采用单因素和多因素logistic回归分析CIEDs置入后AF发生的独立危险因素,ROC曲线分析其对AF发生的预测价值。结果:单因素分析结果显示,吸烟、高血压、脑梗死、中性粒细胞、尿酸、左房内径、钙拮抗剂的占比高于对照组,差异有统计学意义(P<0.05)。多因素logistic回归分析显示,吸烟、高血压、脑梗死、左房内径为CIEDs植入后发生AF的独立危险因素(P<0.05),ACEI/ARB为保护因素(P<0.05)。联合预测AF的ROC曲线下面积为0.920,预测灵敏度和特异度分别为94.12%、76.74%。结论:吸烟、高血压、脑梗死、左房内径可作为临床预测CIEDs植入后是否并发AF的重要参考依据。 展开更多
关键词 心脏电子植入装置 心房颤动 亚临床心房颤动 危险因素 高心房率事件 穿戴式12导联心电检测设备 预测
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