期刊导航
期刊开放获取
重庆大学
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
3
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
使用红外干涉仪测量非球面面形
被引量:
18
1
作者
贺俊
陈磊
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第1期69-74,共6页
提出用红外干涉仪在长波工作(λ=10.6μm)的优点检测非球面面形。首先,通过移相算法,使用泰曼型红外干涉仪测量出非球面与标准拟合球面之间的波像差;然后,根据非球面的矢高方程计算出非球面与标准拟合球面之间波像差的理论值,通过比较...
提出用红外干涉仪在长波工作(λ=10.6μm)的优点检测非球面面形。首先,通过移相算法,使用泰曼型红外干涉仪测量出非球面与标准拟合球面之间的波像差;然后,根据非球面的矢高方程计算出非球面与标准拟合球面之间波像差的理论值,通过比较这两个值,计算出非球面的面形偏差。实验结果表明,使用红外干涉仪测量的非球面与标准拟合球面之间的波像差为8.64μm(PV),与理论波像差(8.11μm)比较接近,测得非球面面形偏差为1.20μm(PV)。为了验证这一方法的准确性,使用计算全息图(CGH)作为补偿镜在可见光干涉仪上测量了同一块非球面,两者测量结果比较吻合。结果表明,此方法有比较强的通用性,可以用于非球面在加工过程中的测试。
展开更多
关键词
光学测量
非球面
红外干涉仪
波像差
下载PDF
职称材料
使用红外干涉仪测量红外材料折射率
被引量:
3
2
作者
贺俊
陈磊
王青
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第6期1125-1128,共4页
使用自行研制的泰曼型红外干涉仪测量红外材料的折射率.在干涉仪的测试臂中加一个旋转台,将被测件放在旋转台上旋转,在旋转过程中经过被测件的光程发生改变,导致干涉条纹发生移动,通过测量条纹的移动数和被测件的旋转角度来计算出被测...
使用自行研制的泰曼型红外干涉仪测量红外材料的折射率.在干涉仪的测试臂中加一个旋转台,将被测件放在旋转台上旋转,在旋转过程中经过被测件的光程发生改变,导致干涉条纹发生移动,通过测量条纹的移动数和被测件的旋转角度来计算出被测件的折射率.测量结果显示,25°C时在10.6μm波段处锗单晶的折射率为4.003,硫系玻璃锗砷硒(GeAsSe)的折射率为2.494.折射率测量的误差在10-3量级,增加被测件的厚度会进一步提高折射率的测量准确度,待测红外材料的折射率越低,测量准确度越高.
展开更多
关键词
测量
折射率
红外材料
红外干涉仪
误差
下载PDF
职称材料
大口径粗糙球面的检测
被引量:
1
3
作者
贺俊
陈磊
李新南
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第6期969-973,共5页
为了解决大口径光学元件在精磨阶段的检测问题,基于电磁场散射理论,分析了在红外干涉仪测量粗糙表面过程中,所产生干涉条纹的对比度与粗糙表面粗糙度之间的关系,并通过测量不同粗糙表面对这一结果进行了实验验证。利用红外干涉仪测量了2...
为了解决大口径光学元件在精磨阶段的检测问题,基于电磁场散射理论,分析了在红外干涉仪测量粗糙表面过程中,所产生干涉条纹的对比度与粗糙表面粗糙度之间的关系,并通过测量不同粗糙表面对这一结果进行了实验验证。利用红外干涉仪测量了280#精磨粗糙球面(Φ=1130mm,R=3600mm)的面形,讲述了测量大型粗糙球面时干涉仪的调整方法。从测量结果可以看出,此粗糙球面具有比较明显的球差,面形峰谷(PV)值为0.526λ(λ=10.6μm),均方根(RMS)值为0.117λ(λ=10.6μm)。
展开更多
关键词
红外干涉仪
粗糙度
粗糙球面
下载PDF
职称材料
题名
使用红外干涉仪测量非球面面形
被引量:
18
1
作者
贺俊
陈磊
机构
南京
理工大学电子工程与光电技术学院
中国兵器工业集团南京北方信息产业集团
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第1期69-74,共6页
基金
国家教育部博士点基金资助项目(No.20070288010)
兵器预研支撑基金项目(No.62301110116)
文摘
提出用红外干涉仪在长波工作(λ=10.6μm)的优点检测非球面面形。首先,通过移相算法,使用泰曼型红外干涉仪测量出非球面与标准拟合球面之间的波像差;然后,根据非球面的矢高方程计算出非球面与标准拟合球面之间波像差的理论值,通过比较这两个值,计算出非球面的面形偏差。实验结果表明,使用红外干涉仪测量的非球面与标准拟合球面之间的波像差为8.64μm(PV),与理论波像差(8.11μm)比较接近,测得非球面面形偏差为1.20μm(PV)。为了验证这一方法的准确性,使用计算全息图(CGH)作为补偿镜在可见光干涉仪上测量了同一块非球面,两者测量结果比较吻合。结果表明,此方法有比较强的通用性,可以用于非球面在加工过程中的测试。
关键词
光学测量
非球面
红外干涉仪
波像差
Keywords
optical measurement
aspheric surface
infrared interferometer
wavefront aberration
分类号
TN216 [电子电信—物理电子学]
TH744.3 [机械工程—光学工程]
下载PDF
职称材料
题名
使用红外干涉仪测量红外材料折射率
被引量:
3
2
作者
贺俊
陈磊
王青
机构
南京
理工大学电子工程与光电技术学院
中国兵器工业集团南京北方信息产业集团
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第6期1125-1128,共4页
基金
教育部博士点基金(20070288010)
兵器预研支撑基金(62301110116)资助
文摘
使用自行研制的泰曼型红外干涉仪测量红外材料的折射率.在干涉仪的测试臂中加一个旋转台,将被测件放在旋转台上旋转,在旋转过程中经过被测件的光程发生改变,导致干涉条纹发生移动,通过测量条纹的移动数和被测件的旋转角度来计算出被测件的折射率.测量结果显示,25°C时在10.6μm波段处锗单晶的折射率为4.003,硫系玻璃锗砷硒(GeAsSe)的折射率为2.494.折射率测量的误差在10-3量级,增加被测件的厚度会进一步提高折射率的测量准确度,待测红外材料的折射率越低,测量准确度越高.
关键词
测量
折射率
红外材料
红外干涉仪
误差
Keywords
Measurement
Refractive index
Infrared materials
Infrared interferometer
Error
分类号
TN213 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
大口径粗糙球面的检测
被引量:
1
3
作者
贺俊
陈磊
李新南
机构
南京
理工大学电子工程与光电技术学院
中国兵器工业集团南京北方信息产业集团
中国
科学院
南京
天文与光学技术研究所
出处
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第6期969-973,共5页
基金
南京天文与光学技术研究所横向课题<移相式红外干涉仪>
文摘
为了解决大口径光学元件在精磨阶段的检测问题,基于电磁场散射理论,分析了在红外干涉仪测量粗糙表面过程中,所产生干涉条纹的对比度与粗糙表面粗糙度之间的关系,并通过测量不同粗糙表面对这一结果进行了实验验证。利用红外干涉仪测量了280#精磨粗糙球面(Φ=1130mm,R=3600mm)的面形,讲述了测量大型粗糙球面时干涉仪的调整方法。从测量结果可以看出,此粗糙球面具有比较明显的球差,面形峰谷(PV)值为0.526λ(λ=10.6μm),均方根(RMS)值为0.117λ(λ=10.6μm)。
关键词
红外干涉仪
粗糙度
粗糙球面
Keywords
infrared interferometer
roughness
rough sphere
分类号
TN21 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
使用红外干涉仪测量非球面面形
贺俊
陈磊
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
18
下载PDF
职称材料
2
使用红外干涉仪测量红外材料折射率
贺俊
陈磊
王青
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
3
下载PDF
职称材料
3
大口径粗糙球面的检测
贺俊
陈磊
李新南
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2009
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部