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基于狭缝扫描的表面等离子体共振成像 被引量：1
1
作者 高来勖 李松权 +4 位作者 叶红安 刘书钢 蒋式弘 柳春郁 安旭 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第6期181-185,共5页
利用表面等离子体共振技术进行电介质样品成像研究.采用高数值孔径显微物镜作为耦合元件,632.8nm He-Ne激光会聚激发金膜产生表面等离子体共振,通过狭缝光阑限制光束入射角,对金膜上的氮化硅光栅进行成像.反射光由放置在样品像方共轭面... 利用表面等离子体共振技术进行电介质样品成像研究.采用高数值孔径显微物镜作为耦合元件,632.8nm He-Ne激光会聚激发金膜产生表面等离子体共振,通过狭缝光阑限制光束入射角,对金膜上的氮化硅光栅进行成像.反射光由放置在样品像方共轭面上的CCD摄像机接收,获得样品的表面等离子体共振像.通过扫描移动狭缝,得到入射角从44°至54°的扫描样品图像,从图像中提取样品各点的表面等离子体共振曲线,由计算机重构出样品的表面等离子体共振角谱灰度图. 展开更多
关键词 物理光学 表面等离子体共振 表面等离子体共振成像 显微物镜
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