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题名一种印刷机滚筒表面位置偏差的高精度光电测量系统
被引量：2
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作者
杨宇峰
陈长缨
孙圆圆
肖勇盛
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机构
暨南大学教育部"重大工程灾害与控制"重点实验室
暨南大学光电工程系
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出处
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第2期185-189,共5页
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文摘
为了提高印刷机的印刷品质,构建了一个测量高速旋转物体表面位置偏差的高精度系统。介绍了该系统的设计原理、结构,各个模块的功能以及软件设计的思路,重点讨论了条形码设计的思路以及利用锁相法测量旋转物体表面位置偏差的方法,并通过实验结果分析,评估了该系统的质量。实验证明该系统可以测量10μm的位置偏差,测量误差低于3μm,测量误差稳定可靠,检测速度快,为印刷机滚筒表面位置偏差的测量提供了一种全新的技术手段。
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关键词
锁相环
条形码
比相器
光电读出系统
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Keywords
phase-locked loop
barcode
phase detector
optoelectronic readout system
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分类号
TN06
[电子电信—物理电子学]
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