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超高频晶体管共晶装片中eb结失效的分析 被引量：1
1
作者 吴振江 《电子产品可靠性与环境试验》 1997年第5期31-32,共2页
关键词 超高频晶体管 共晶装片 eb结 失效
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大生产中超高频低噪声管失效分析
2
作者 吴振江 《电子器件》 CAS 1996年第3期179-183,共5页
本文介绍了大生产中超高频低噪声管的失效现象，对生产结果进行了讨论，亦提出了新的工艺方法。
关键词 失效分析 EB结构 软击穿 低噪声晶体管
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