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基于ATE的FPGA器件测试方案研究
被引量:
2
1
作者
焦亚涛
顾颖
石雪梅
《计算机与数字工程》
2015年第1期80-82,共3页
在FPGA器件的测试领域,由于通用ATE的局限性,需要为ATE设计FPGA配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植性差,给FPGA器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了一种新的FPGA多重自动配置技术,设计采用FPGA...
在FPGA器件的测试领域,由于通用ATE的局限性,需要为ATE设计FPGA配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植性差,给FPGA器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了一种新的FPGA多重自动配置技术,设计采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,具有大量存储、调取灵活、配置快速等优点,实现了Xilinx公司绝大部分不同型号的FPGA器件的多重、自动、快速重配置,有效地解决了原配置方案的弊端,提高了FPGA测试的效率。
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关键词
FPGA
重配置
自动配置
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职称材料
双端口静态存储器测试方法研究
被引量:
4
2
作者
李盛杰
张碚
顾颖
《计算机与数字工程》
2015年第1期83-86,112,共5页
随着信息化和数字化技术的发展,双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度,增加了测试时间。在保证测试覆盖率的情况下降低测试复杂度和测试时间是双端口静态存储器测试的关键。论文分析...
随着信息化和数字化技术的发展,双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度,增加了测试时间。在保证测试覆盖率的情况下降低测试复杂度和测试时间是双端口静态存储器测试的关键。论文分析了双端口静态存储器的结构和功能,研究了双端口静态存储器的读写功能失效模式和仲裁控制模块功能失效模式,并提出了一种"同测"方法的测试算法设计,给出了基于V93000测试系统的实现方法,有效地减少了测试向量操作长度,提高了测试效率。
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关键词
双端口静态存储器
测试算法
测试向量
同测
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职称材料
塑封器件声学扫描显微镜检查技术及标准探讨
被引量:
4
3
作者
龙承武
关茗心
刘莉
《计算机与数字工程》
2015年第1期121-123,共3页
塑封器件已经大量在工程中使用,需要使用非破坏性的声学扫描显微镜检查技术来有效剔除存在早期缺陷的塑封器件。塑封器件典型的缺陷包括分层、空洞、裂纹。论文描述了典型的三种扫描模式,提出了提高声扫试验效率的方法,并且对相关的声...
塑封器件已经大量在工程中使用,需要使用非破坏性的声学扫描显微镜检查技术来有效剔除存在早期缺陷的塑封器件。塑封器件典型的缺陷包括分层、空洞、裂纹。论文描述了典型的三种扫描模式,提出了提高声扫试验效率的方法,并且对相关的声学扫描显微镜检查技术标准进行了探讨,提出了改进的建议。
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关键词
塑封器件
缺陷
分层
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职称材料
DDS专用芯片静态参数测试方法研究
被引量:
3
4
作者
刘路扬
张虹
+1 位作者
张碚
吕兵
《计算机与数字工程》
2015年第1期70-74,共5页
文章重点介绍了基于ATE设备的DDS专用芯片内嵌DAC静态参数的一种测试方法。由于DDS专用芯片的自身特点,其只能输出一定频率的正弦波,测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的,所以利用线性斜波...
文章重点介绍了基于ATE设备的DDS专用芯片内嵌DAC静态参数的一种测试方法。由于DDS专用芯片的自身特点,其只能输出一定频率的正弦波,测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的,所以利用线性斜波电压测试DAC的传统方法并不能用于DDS专用芯片的静态参数测试,只能依靠间接的方式测试其内嵌DAC的静态参数。该测试方法通过将正弦波的非线性幅值信息转换为线性的角度信息,实现了DDS专用芯片内嵌DAC的测试自动化,且测试过程高效可靠。
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关键词
DDS专用芯片
数模转换器
静态参数测试
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职称材料
一种基于电流积分法的ADC典型静态参数测试方法研究
5
作者
陈波
张虹
张碚
《计算机与数字工程》
2015年第1期87-90,109,共5页
高位ADC的测试中,对输入信号的质量要求较高,一般的混合信号测试系统难以达到要求。论文提出了一种基于电流积分法的高位ADC典型静态参数测试方法,充分利用了聚丙烯电容在积分线性度方面的优势,搭建了合理的测试电路,并在ATE上完成了对...
高位ADC的测试中,对输入信号的质量要求较高,一般的混合信号测试系统难以达到要求。论文提出了一种基于电流积分法的高位ADC典型静态参数测试方法,充分利用了聚丙烯电容在积分线性度方面的优势,搭建了合理的测试电路,并在ATE上完成了对某款14bit ADC的典型静态参数测试,实验表明,该方法设计简便,通用性强,而且测试效果良好,具有较强的实用性。
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关键词
电流积分法
ADC测试
ATE
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职称材料
题名
基于ATE的FPGA器件测试方案研究
被引量:
2
1
作者
焦亚涛
顾颖
石雪梅
机构
航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室
出处
《计算机与数字工程》
2015年第1期80-82,共3页
文摘
在FPGA器件的测试领域,由于通用ATE的局限性,需要为ATE设计FPGA配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植性差,给FPGA器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了一种新的FPGA多重自动配置技术,设计采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,具有大量存储、调取灵活、配置快速等优点,实现了Xilinx公司绝大部分不同型号的FPGA器件的多重、自动、快速重配置,有效地解决了原配置方案的弊端,提高了FPGA测试的效率。
关键词
FPGA
重配置
自动配置
Keywords
FPGA
reconfiguration
auto-configure
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
双端口静态存储器测试方法研究
被引量:
4
2
作者
李盛杰
张碚
顾颖
机构
航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室
出处
《计算机与数字工程》
2015年第1期83-86,112,共5页
文摘
随着信息化和数字化技术的发展,双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度,增加了测试时间。在保证测试覆盖率的情况下降低测试复杂度和测试时间是双端口静态存储器测试的关键。论文分析了双端口静态存储器的结构和功能,研究了双端口静态存储器的读写功能失效模式和仲裁控制模块功能失效模式,并提出了一种"同测"方法的测试算法设计,给出了基于V93000测试系统的实现方法,有效地减少了测试向量操作长度,提高了测试效率。
关键词
双端口静态存储器
测试算法
测试向量
同测
Keywords
dual port SRAM
test method
test pattern
simultaneity testing
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
塑封器件声学扫描显微镜检查技术及标准探讨
被引量:
4
3
作者
龙承武
关茗心
刘莉
机构
航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室
出处
《计算机与数字工程》
2015年第1期121-123,共3页
文摘
塑封器件已经大量在工程中使用,需要使用非破坏性的声学扫描显微镜检查技术来有效剔除存在早期缺陷的塑封器件。塑封器件典型的缺陷包括分层、空洞、裂纹。论文描述了典型的三种扫描模式,提出了提高声扫试验效率的方法,并且对相关的声学扫描显微镜检查技术标准进行了探讨,提出了改进的建议。
关键词
塑封器件
缺陷
分层
Keywords
PEM
defect
delamination
分类号
TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
DDS专用芯片静态参数测试方法研究
被引量:
3
4
作者
刘路扬
张虹
张碚
吕兵
机构
航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室
出处
《计算机与数字工程》
2015年第1期70-74,共5页
文摘
文章重点介绍了基于ATE设备的DDS专用芯片内嵌DAC静态参数的一种测试方法。由于DDS专用芯片的自身特点,其只能输出一定频率的正弦波,测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的,所以利用线性斜波电压测试DAC的传统方法并不能用于DDS专用芯片的静态参数测试,只能依靠间接的方式测试其内嵌DAC的静态参数。该测试方法通过将正弦波的非线性幅值信息转换为线性的角度信息,实现了DDS专用芯片内嵌DAC的测试自动化,且测试过程高效可靠。
关键词
DDS专用芯片
数模转换器
静态参数测试
Keywords
direct digital synthesis dedicated silicon
digital-to-analog converter
linear parameter
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
一种基于电流积分法的ADC典型静态参数测试方法研究
5
作者
陈波
张虹
张碚
机构
航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室
出处
《计算机与数字工程》
2015年第1期87-90,109,共5页
文摘
高位ADC的测试中,对输入信号的质量要求较高,一般的混合信号测试系统难以达到要求。论文提出了一种基于电流积分法的高位ADC典型静态参数测试方法,充分利用了聚丙烯电容在积分线性度方面的优势,搭建了合理的测试电路,并在ATE上完成了对某款14bit ADC的典型静态参数测试,实验表明,该方法设计简便,通用性强,而且测试效果良好,具有较强的实用性。
关键词
电流积分法
ADC测试
ATE
Keywords
integration method
ADC test
ATE
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于ATE的FPGA器件测试方案研究
焦亚涛
顾颖
石雪梅
《计算机与数字工程》
2015
2
下载PDF
职称材料
2
双端口静态存储器测试方法研究
李盛杰
张碚
顾颖
《计算机与数字工程》
2015
4
下载PDF
职称材料
3
塑封器件声学扫描显微镜检查技术及标准探讨
龙承武
关茗心
刘莉
《计算机与数字工程》
2015
4
下载PDF
职称材料
4
DDS专用芯片静态参数测试方法研究
刘路扬
张虹
张碚
吕兵
《计算机与数字工程》
2015
3
下载PDF
职称材料
5
一种基于电流积分法的ADC典型静态参数测试方法研究
陈波
张虹
张碚
《计算机与数字工程》
2015
0
下载PDF
职称材料
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