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基于KEITHLEY2000的传感器稳定性测试方法
被引量:
3
1
作者
匡石
刘波
+1 位作者
陈玉玲
张玉喆
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2009年第B11期249-251,共3页
针对传感器稳定性的测试需要,基于KEITHLEY2000表的功能和SCAN卡的功能,对其应用进行了二次开发,设计了单通道传感器稳定性测试和多通道传感器稳定性测试的硬件平台。通过对KEITHLEY2000表的RS-232通讯参数设置、测试参数设置进行研究,...
针对传感器稳定性的测试需要,基于KEITHLEY2000表的功能和SCAN卡的功能,对其应用进行了二次开发,设计了单通道传感器稳定性测试和多通道传感器稳定性测试的硬件平台。通过对KEITHLEY2000表的RS-232通讯参数设置、测试参数设置进行研究,在.net平台下用C#语言完成了传感器数据采集和传感器稳定性数据的分析程序,实现了传感器稳定性数据的自动测试功能。测试精度与KEITHLEY2000表的测试精度相同。
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关键词
传感器
稳定性
测试规范
KEITHLEY2000
内存数据
读取和处理
SCAN卡工作原理
稳定性数据分析
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职称材料
OEM压阻芯片性能测试及装置
2
作者
匡石
冯艳敏
+2 位作者
郑东明
徐长伍
张玉喆
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2009年第B11期246-248,258,共4页
OEM压阻芯片性能测试装置由2个平台构成,即硬件平台和软件平台,具有自动测试芯片性能和控制探针台功能。OEM压阻芯片性能测试可实现4寸(1寸=2.54 cm)芯片上近千个传感器图形的性能测试。每个图形测试项目包括桥路电阻、失调电压、漏流...
OEM压阻芯片性能测试装置由2个平台构成,即硬件平台和软件平台,具有自动测试芯片性能和控制探针台功能。OEM压阻芯片性能测试可实现4寸(1寸=2.54 cm)芯片上近千个传感器图形的性能测试。每个图形测试项目包括桥路电阻、失调电压、漏流、击穿。对测试项目的合格判定标准实现了开放式管理,可根据不同类别的传感器芯片,设置不同的合格判定标准;在击穿电压测试项目中,对反向偏置电压设置实现了开放式管理,可根据不同的要求,设置不同的反向偏置电压,方便了应用。
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关键词
OEM压阻芯片
桥路电阻
失调电压
漏流
击穿电压
芯片性能测试原理
芯片性能自动测试程序设计
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职称材料
题名
基于KEITHLEY2000的传感器稳定性测试方法
被引量:
3
1
作者
匡石
刘波
陈玉玲
张玉喆
机构
沈阳仪表科学研究院
辽宁大学计算机信息学院
出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2009年第B11期249-251,共3页
文摘
针对传感器稳定性的测试需要,基于KEITHLEY2000表的功能和SCAN卡的功能,对其应用进行了二次开发,设计了单通道传感器稳定性测试和多通道传感器稳定性测试的硬件平台。通过对KEITHLEY2000表的RS-232通讯参数设置、测试参数设置进行研究,在.net平台下用C#语言完成了传感器数据采集和传感器稳定性数据的分析程序,实现了传感器稳定性数据的自动测试功能。测试精度与KEITHLEY2000表的测试精度相同。
关键词
传感器
稳定性
测试规范
KEITHLEY2000
内存数据
读取和处理
SCAN卡工作原理
稳定性数据分析
Keywords
sensor
stability
testing criterion
KEITHLEY2000
RAM
reading and processing
the SCAN card working principle
data analysis for stability
分类号
TP212 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
OEM压阻芯片性能测试及装置
2
作者
匡石
冯艳敏
郑东明
徐长伍
张玉喆
机构
沈阳仪表科学研究院
辽宁大学计算机信息学院
出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2009年第B11期246-248,258,共4页
文摘
OEM压阻芯片性能测试装置由2个平台构成,即硬件平台和软件平台,具有自动测试芯片性能和控制探针台功能。OEM压阻芯片性能测试可实现4寸(1寸=2.54 cm)芯片上近千个传感器图形的性能测试。每个图形测试项目包括桥路电阻、失调电压、漏流、击穿。对测试项目的合格判定标准实现了开放式管理,可根据不同类别的传感器芯片,设置不同的合格判定标准;在击穿电压测试项目中,对反向偏置电压设置实现了开放式管理,可根据不同的要求,设置不同的反向偏置电压,方便了应用。
关键词
OEM压阻芯片
桥路电阻
失调电压
漏流
击穿电压
芯片性能测试原理
芯片性能自动测试程序设计
Keywords
OEM piezoresistive chip
bridge resistance
offset voltage
leakage
breakdown voltage
chip performance testing principle
chip performance auto-testing programming
分类号
TP212 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于KEITHLEY2000的传感器稳定性测试方法
匡石
刘波
陈玉玲
张玉喆
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2009
3
下载PDF
职称材料
2
OEM压阻芯片性能测试及装置
匡石
冯艳敏
郑东明
徐长伍
张玉喆
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2009
0
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职称材料
已选择
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