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深亚微米工艺下芯片的差分静态电流测试分析
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作者 曹福全 石艳玲 +3 位作者 陈哲 甘甜 温秀芝 刘婧 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2008年第5期633-636,共4页
在分析深亚微米工艺下芯片的差分静态电流(ΔIddq)测试原理的基础上,提出了一套深亚微米工艺下芯片的ΔIddq辅助测试解决方案。通过样本芯片,检验了ΔIddq测试方法的有效性;并根据检验结果,提出了Δ归一化的改进技术。经验证,这种优化... 在分析深亚微米工艺下芯片的差分静态电流(ΔIddq)测试原理的基础上,提出了一套深亚微米工艺下芯片的ΔIddq辅助测试解决方案。通过样本芯片,检验了ΔIddq测试方法的有效性;并根据检验结果,提出了Δ归一化的改进技术。经验证,这种优化后的ΔIddq辅助测量技术可有效筛选出功能测试不能覆盖的故障类型,提高了测试覆盖率。 展开更多
关键词 差分静态电流测试 深亚微米器件 故障覆盖率
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