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硅粉水泥石小角度X射线散射实验研究(Ⅱ)——微孔界面过渡层厚度
1
作者
朱卫华
蒋林华
+1 位作者
印友法
车黎明
《建筑材料学报》
EI
CAS
CSCD
2001年第3期228-231,共4页
采用X射线小角散射 (SAXS)技术 ,测定了硅粉水泥石中微孔孔界面电子密度过渡层厚度 ,并对过渡层厚度产生的原因进行了探讨 .研究表明 :硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界 ,而具有约 2× 1 0 - 9m厚度的电子密度缓变的过渡层 ;...
采用X射线小角散射 (SAXS)技术 ,测定了硅粉水泥石中微孔孔界面电子密度过渡层厚度 ,并对过渡层厚度产生的原因进行了探讨 .研究表明 :硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界 ,而具有约 2× 1 0 - 9m厚度的电子密度缓变的过渡层 ;当水灰比较大时 ,水灰比和硅粉含量对过渡层厚度有较大的影响 ;
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关键词
小角度X射线散射
水泥石
硅粉
界面
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职称材料
题名
硅粉水泥石小角度X射线散射实验研究(Ⅱ)——微孔界面过渡层厚度
1
作者
朱卫华
蒋林华
印友法
车黎明
机构
河海大学数理系江苏南京
河海大学土木工程学院江苏南京
dept.of materials science and engineering bathuniv
水利部松辽水利委员会水利科学研究院
出处
《建筑材料学报》
EI
CAS
CSCD
2001年第3期228-231,共4页
文摘
采用X射线小角散射 (SAXS)技术 ,测定了硅粉水泥石中微孔孔界面电子密度过渡层厚度 ,并对过渡层厚度产生的原因进行了探讨 .研究表明 :硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界 ,而具有约 2× 1 0 - 9m厚度的电子密度缓变的过渡层 ;当水灰比较大时 ,水灰比和硅粉含量对过渡层厚度有较大的影响 ;
关键词
小角度X射线散射
水泥石
硅粉
界面
Keywords
small angle X ray scattering
hardened cement paste
silica fume
interface
分类号
TQ172.12 [化学工程—水泥工业]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
硅粉水泥石小角度X射线散射实验研究(Ⅱ)——微孔界面过渡层厚度
朱卫华
蒋林华
印友法
车黎明
《建筑材料学报》
EI
CAS
CSCD
2001
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